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QVI VIEW Pinnacle 250 影像测量仪

高精度和快速的计量系统
Pinnacle 250 提供高的精度和快速的 VIEW 系列速度。其高性能和紧凑的占地面积使其成为 VIEW 最受欢迎的型号。
Pinnacle 采用阻尼花岗岩底座和立柱，具有被动隔振功能。带有高速线性电机驱动器的精密复合 XY 平台可提供 400 毫米/秒的速度和 1000 毫米/秒的加速度。这种高加速度和高速度的结合实现了近线过程监控所需的高吞吐量。 Pinnacle 坚固而紧凑的设计使其适合安装在 Q/A 实验室或生产线的检测站。


特征
Pinnacle 非常适合测量小型、紧公差零件，尤其是具有高密度特征的零件，例如硬盘驱动器悬架、打印机头、精密冲压件、引线框架、球栅阵列和芯片级封装。
Pinnacle 可以配备可选的直通镜头或偏移安装的激光器，以增加 Z 轴测量的灵活性。 Pinnacle 型号还可以利用可选的 SpectraProbe™ 提供亚微米 Z 轴测量分辨率。