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QVI VIEW Summit 系列影像测量仪

大面积、高精度尺寸测量系统
VIEW Summit 系统专为需要大工作范围和高精度的组件而设计。基于与VIEW Pinnacle相同的光学、高速线性电机和高分辨率光栅尺的核心技术，Summit采用固定桥设计。独立的 X 轴和 Y 轴运动系统可确保既不会影响另一个的机械完整性，同时还能轻松装卸大型零件。
VIEW Summit 提供三种行程范围，非常适合测量大尺寸零件，例如 PCB、模板、平板显示器、蚀刻片和标记图案，或嵌套的小零件组。 Summit 为车间流程监控和质量保证应用提供了非常高的准确性和高速性。


特征
Summit 系统非常适合测量需要高精度的大幅面零件，例如焊膏模板和丝网、艺术品、面板印刷电路板、柔性电路和微蚀刻零件。
Summit 型号可配备可选的直通镜头或偏移安装的激光器，以增加 Z 轴测量的灵活性。 Summit 型号还可以利用可选的 SpectraProbe™ 提供亚微米 Z 轴测量分辨率。